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產(chǎn)品詳細說明
日本KASUGA 數(shù)字低電位測量儀- KSD 3000
電子器件的靜電電阻在下降，靜電控制電壓也在下降。現(xiàn)在可以通過高精度測量 100V 或以下的電荷，從 0.1V 開始測量，這是傳統(tǒng)型號難以測量的。此外，通過縮小測量區(qū)域，可以測量 LSI 封裝表面等狹窄區(qū)域。
特征
您可以測量導(dǎo)致靜電破壞的低電位靜電。
添加了新的量程切換功能，可以測量微小的電位。
通過縮短測量距離，可以縮小測量區(qū)域，測量約20平方毫米的面積，可以高精度測量小型電子設(shè)備的表面電位。
顯示器和探測器是分開的，這樣您就可以在狹窄的空間內(nèi)進行測量，并看到手邊的測量值。
從小型電子元件的測量，可以測量寬物體的電位分布。
您可以在峰值保持測量和連續(xù)測量之間切換。
它具有內(nèi)置的檢測傳感器故障診斷電路，并在發(fā)生故障時顯示。（專利）
它具有睡眠模式功能，可防止因忘記關(guān)閉電源而導(dǎo)致電池消耗。
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