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產品詳細說明
FLS 106型IC掃描儀可以在電子組件的集成電路上方，借助ICR-近場微探頭對頻率在6GHz以內的高頻磁場或電場進行高分辨率（50-100?m）測量。
使用近場探頭和帶有SH 01探頭支架的場源
使用ICR-探頭（旋轉單元）
工作狀態下對集成電路的采樣
四軸定位系統
可提供*個掃描臺
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